HP4339A/回收4339A 主要特性與技術(shù)指標(biāo)

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測量范圍
寬量程：: 103ohm 至 1.6x1016ohm
測量速度
高速測量: 10 ms

穩(wěn)定的測試夾具：電阻系數(shù)單元、元器件測試夾具
測試序列編程
電阻系數(shù)計算
接地被測件測量

Agilent 4338B低電阻測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
測量參數(shù)：R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率)，pv(體電阻率)。
測量范圍：電阻1*103Ω至 1.6x1016Ω；電流60fA至100uA。
基本測量精度：0.6%。
測量速度：*快10 ms測量時間。
測試序列程序：控制一系列電阻測量。充電時間、測量間隔時間和測量次數(shù)可以編程。
接觸檢查功能：可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障，附加時間2ms。
穩(wěn)定的測試夾具：比電阻盒、元件測試夾具。
計算電阻率。
通過GPIB借口控制設(shè)置。

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