藍(lán)牙測(cè)試儀的常見故障提示

藍(lán)牙測(cè)試儀，根據(jù)藍(lán)牙技術(shù)產(chǎn)生的設(shè)備。其測(cè)試范圍包括：藍(lán)牙1.1/1.2/2.0+EDR/2.1+EDR/3.0 (HS)/4.0 (LE)，以及藍(lán)牙的協(xié)議測(cè)試、音頻測(cè)試等內(nèi)容。測(cè)試結(jié)果以數(shù)據(jù)或圖形的方式表現(xiàn)出來。有些儀器具有快速測(cè)試、信號(hào)發(fā)生器等特色功能。
  Error!< GPIB test cONfig(錯(cuò)誤!<GPIB測(cè)試配置)：當(dāng)一個(gè)儀器在單一測(cè)試模式下，而設(shè)定的更改或資料讀取嘗試是為另一測(cè)試進(jìn)行時(shí)，即會(huì)出現(xiàn)此訊息。Error!< non-editable script(錯(cuò)誤!<不可編輯程式) ：程式1和2為出廠設(shè)定，代表一般測(cè)試要求且無法由使用者更改，若要定義你自己的程式設(shè)定，請(qǐng)使用程式3至10。Connection ended，low resource(連結(jié)終止，資源不足)：EUT由于資源不足而終止。
  藍(lán)牙測(cè)試儀的測(cè)試項(xiàng)目
靜電放電耐受性
  放射無線電頻率電磁場(chǎng)耐受性
  電子快速暫態(tài)/叢訊耐受性測(cè)試
突波耐受性
　對(duì)無線電頻率場(chǎng)引發(fā)之傳導(dǎo)干擾之耐受性
　功率頻率磁場(chǎng)耐受性
電壓突降，短干擾和電壓漂移耐受性
  圖形頻譜測(cè)試，藍(lán)牙4.0 測(cè)試
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